[학술활동][대상 수상] K-인공지능 제조데이터 분석 경진대회

출품작: 불량품 유발 공정 설비에 대한 설명가능한 이상치 탐지 모델 X-AER 

참가자:  정지인(석사2기),신아리(석사2기),문정언(석사3기)

주최: 중소벤처기업부, 스마트제조혁신 추진단, 카이스트 제조 AI 빅데이터 센터

일시: 2023. 11. 29.(화)